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靈活的自動掃描系統 低成本桌面式壽命測量系統，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動操作Z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。

靈活的自動掃描系統 MDPmap設計用于離線生產控制或研發、測量少子壽命、光電導率、電阻率和缺陷信息等參數的小型臺式無觸點電特性測量儀器，在穩態或短脈沖激勵下(μ-PCD)下工作。自動的樣品識別和參數設置允許在從原始生長晶片到高達95%金屬化晶片的各種工藝階段之后，容易地應用于包括外延層的各種不同樣品。

激光掃描系統 該儀器被設計用于工藝和材料的質量監控，例如單晶或多晶硅。多晶硅磚切割標準的自動輸出。能夠根據爐子的輸出質量進行單獨的爐子監控進行優化和決定投資。MDPpro是多晶硅磚生產商以及爐子技術生產商的標準儀器。

在線壽命和電阻率掃描儀 電池生產線的進料質量調查是常見的應用案例，以及在鈍化和擴散之后的工藝質量檢查，在許多其他的專業應用領域也有很大的可能性。只需要集成以太網連接和電源就可以了。包括附加電阻率測量選項。。

快速自動掃描系統 MDPinline ingot系統是可用于多晶硅電氣特性的快的測量工具。它被設計用于高產量生制造工廠的研究用途。每塊磚都可以在不到兩分鐘的時間里同時測量兩邊的所有形貌。測量參數具有1mm分辨率的壽命和導電型等效圖以及電阻率線掃描。

少子壽命測試儀 MDPinline是一個用于定量測量少子壽命的緊湊型高速生產集成自動掃描系統。當晶片通過傳送裝置移動到儀器下面時，一片晶片的形貌測量在一秒鐘的時間內進行實時測量。

薄膜反射和透射的在線監測系統 RT inline 薄膜測量系統是為沉積過程的在線質量控制而設計的。該方法基于SENTECH著名的薄膜厚度探針FTPadv，用于測量反射率和薄膜厚度。它分別工作在420～1050 nm、2000～2500 nm的光譜范圍內。可以分析光滑和紋理結構的TCO薄膜、CdS薄膜、a-Si、µ-Si、CIGS和CdTe吸收膜。

自動掃描薄膜測量儀器 SenSol自動掃描儀器設計用于玻璃薄膜光伏制造中薄膜性能的質量控制的在線測量。大量的傳感器可以集成到SenSol傳感器平臺中。這也允許特定的工藝監測，提供補償工藝中出現的差異。